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ct扫描
缺陷分析 | 尺寸测量 | 逆向工程 | cad数模对比 |
工业ct介绍
工业ct被誉为当今最佳无损检测和无损评估技术,其原理如下图所示:
三维x射线扫描(简称ct)是以非破坏性x射线透视技术,将待测物体做360°自转,通过单一轴面的射线穿透被测物体,根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同,收集每个角度的穿透图像,之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。
工业ct是对产品进行无损检测(ndt)和无损评价(nde)的最佳手段,可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。
工业ct取代传统的破坏性监测和分析,任何方向上的非破坏性切片和成像,不受周围细节特征的遮挡,可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。
应用领域
汽车材料及零部件、金属材料、塑胶材料、模具、轨道交通、电子电器、医疗器械、航空航天、科研院所、军工国防等。
样品要求
尺寸要求:<φ300mmx350mm
重量要求: <50kg
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工业ct检测的应用
快速、准确、直观的查找到产品的内部缺陷(缺陷类型、位置、尺寸等),如裂纹、气孔、疏松、夹杂等缺陷,并进行分析,找到出现缺陷的根本原因,从而提高产品性能,延长产品使用寿命。
2.装配分析
使用工业ct可以不用拆卸,直观了解产品的二维与三维局部整体、透视或截面分析图,可分析与测量组件间装配形成的缝隙,评估工艺,寻找失效原因,解决相关问题,降低研发的投入成本。
产品的实际尺寸往往不可或缺,但因物体型面复杂或客观物理条件限制等原因会出现无法获取的情况,ct技术能很好地应对此类问题。区别于传统的三坐标检测、影像仪等测量方法,ct尺寸测量优势在于产品的内部尺寸检测。它可以在不破坏样品的前提下,对于工件的所有尺寸进行精确的测量,精度高、速度快。
通过工业ct及分析软件可以将扫描结果与cad数模进行最佳拟合,以直观的色彩偏差快速形象地显示,不仅可以得到工件整体的偏差,还能得到关键位置的具体偏差值。
5.壁厚分析
直接在ct数据上自动定位面积不足或壁厚过厚及间隙过大的位置,尤其是密闭空间的内尺寸,可快速并精确地测量复杂零件壁厚的微小变化。
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