第四届电子制造可靠性提升与失效分析技术交流会 >> 公司动态-j9九游会登录入口

微观电子工艺不断发展，对电子材料与零部件产品的可靠性提出了新的要求，如何提升产品的可靠性成为企业极度关注的焦点。产品失效是发生在产品寿命周期的各个阶段，对装备或元器件在使用过程中发生的各种形式失效现象的特征及规律进行分析研究，有利于提高产品质量，在技术开发、改进，产品修复及仲裁失效事故等方面具有很强的实际意义。

美信检测自2015年以来，每年均举办一场大型的电子制造相关的技术研讨会，场场盛况，与会嘉宾代表300 ！本次12月28日的年终盛会，核心议题围绕电子组装、电子元器件的失效分析，先进材料的表征方法，器件质量评估，ul认证的全面解析和显微分析等共7个方面的课题内容展开。美信检测将与企业一起共探行业发展前景！为企业的创新研发指明方向！

组织机构

主办单位：

支持单位：

大会议程

◆9：00—9：50   切片技术在电子产品质量评价中的应用

课题大纲：

1.微电子的高精细切片制作流程讲解

2.印制线路板的检验及案例分享

3.电子组件的检验及案例分享

4.lcd屏的检验及案例分享

简介：切片技术在关键工序的质量控制中发挥着越来越大的作用，本次课题主要从印制线路板的检验、电子组件的检验、lcd屏的检验等方面展开分析，通过相关的案例讲解，帮助企业深入了解切片技术在电子产品质量评价中的应用。

◆9：50—10：30   现货购买物料风险评估与拦截 

课题大纲：

1.现货物料的诠释

2.现货物料的风险

3.超期物料风险评估

4.器件真伪鉴定

5.真伪鉴定与dpa关系

简介：现货市场购买物料一般存在以下几个风险问题：1、物料缺货，原厂无法提供，只能从现货市场购买，购买价格高；2、很多是超期物料，存放时间较长，性能可能会退化；3、如果供应商存放环境管控不好，会存在严重受潮，焊点腐蚀情况，影响后期的焊接加工质量；4、存在假货的风险。如何对这些风险进行规避？如何选购到符合质量要求的器件产品？这些我们都将进行深入解析。

◆10：30—10：50       茶歇

◆10：50—11：30   工业ct在电子产品中的应用

课题大纲：

4. 高精度ct技术原理与应用介绍

5.ct扫描技术在电子领域中的应用

6.ct扫描典型应用案例深度剖析

简介: ct扫描作为一种无损检测手段，可在不破坏电子元组件的情况下，不受周围细节特征的遮挡，直接检测获得其内部的结构、组成、材质及缺损状况。通过介绍ct技术在电子组件相关产品的应用，并对典型案例进行剖析，帮助企业深入了解ct扫描技术在优化产品制作工艺，降低成本，提高产品寿命，提升产品性能等方面的作用！

◆13：30—14：10  显微分析在电子行业的应用介绍 

课题大纲：

4.电镜的原理介绍；

5.电镜在电子相关领域技术介绍；

6.常用的应用领域介绍及展望

简介：介绍了电子显微的原理和电镜的结构及特点，从电子行业及相关领域的应用方向为出发点，讲解了从外观形貌到内部结构解析，以及元素分析的新应用，对产品的失效分析提供了较全面的j9九游会真人游戏第一品牌的解决方案，最后对显微分析的未来发展进行了展望。

◆14：10—14：50   基于失效物理的可靠性提升

课题大纲：

5.传统可靠性技术体系概述及存在问题

6.基于失效物理的可靠性技术体系概述、意义及思路

7.失效物理在电子组装质量优化中的作用及应对对策

8.相关典型案例的分享与解析

简介：失效物理（failure physics）研究产品在各种应力下发生失效的内在原因及其机理的科学，又称可靠性物理。相较于传统可靠性技术而言，对失效物理可靠性技术相关体系、思路和方法进行阐释，并通过典型的案例熟悉该可靠性技术的实际应用，有利于更好的针对产品失效问题进行分析，获得根本原因并解决。

◆14：50—15：10       茶歇

◆15：10—15：50   fpc常见电子元器件典型失效研讨

课题大纲：

6.失效分析的作用

7.mlcc贴片电容的典型失效

8.贴片电阻的典型失效

9.wlcsp芯片的典型失效

10.模组的典型失效

简介：对fpc常见电子元器件的失效进行了分别的介绍和分析，如：mlcc贴片电容、贴片电阻、wlcsp芯片、模组等，而后对半导体器件（分立器件 、ic）的失效机理进行了讲解，并针对性的精选典型案例，进行分享和剖析。

◆15：50—16：30   先进材料表征技术——表面成分分析方法xps, aes, tof-sims的技术能力和特点以及在材料表征中的应用

课题大纲：

4.x射线光电子能谱仪（xps）的基本原理和主要应用

5.俄歇电子能谱仪(aes)的基本原理和主要应用

6.飞行时间二次离子质谱仪(tof-sims)的基本原理和主要应用

简介：针对先进材料表征技术方法中的表面成分分析技术进行了全面介绍，从x射线光电子能谱仪（xps）、俄歇电子能谱仪(aes)、飞行时间二次离子质谱仪(tof-sims)的基本原理和实际应用进行讲解，并列举案例深度分析，更为清晰的了解该技术。

讲师介绍

刘强 美信检测技术专家	崔风洲 失效分析 技术专家 美信咨询副总经理	樊申腾 美信检测 ct扫描技术专家

刘勤 文天美(中国)科学仪器技术 专家/博士	王君兆 失效分析 技术专家 美信咨询总经理	鲁德凤 phi-china分析技术资深顾问

会议详情

时间：2018年12月28日  9：00-17：00

      早上8点开始签到

地点：宝安恒丰海悦酒店  v1厅

     （深圳市宝安区宝民一路115号）

免费报名方式

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注：

1.由于场地原因，本次会议的午餐、住宿自行安排，费用自理。

2.酒店订房可联系酒店负责人（电话：13760196511），订房有会期的协议优惠价格，报“美信检测”名称即可。

最后，想说一点心里话

美信检测到今年已经6岁啦，这一路上的成长离不开所有人的陪伴、鞭策和鼓励。很感谢有各种各样的声音在时刻围绕着我们，浇灌我们成长！

我们知道，因为在乎，才有了这些言语。

让我们，

在迷茫、沮丧时，不至于丧失信心；

在喜悦、骄傲时，仍不忘谦以律己。

今天，其实也想听你们说说心里话。近年来，美信检测做培训会议已经很多场了，一路的摸索和探寻，这其中的进步和提升，最大的动力都是源于你们的评价！

在微信文末处留言，内容关于：

对往届会议的评价或本届会议想说的（课题、案例、讲师、服务……）

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会务联系

刘久铭：13392891259（同微信）    陈岚清：16675534219（同微信）

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