【展会】美信检测参展2016纳博会-j9九游会登录入口

2016-10-23  浏览量:738

2016年10月26-28日,chinano2016第七届中国国际纳米技术产业博览会(简称“纳博会”)将于苏州国际博览中心盛大开幕,该展会聚焦纳米新材料、分析与检测、微纳制造、mems、纳米生物与医药、纳米环保与清洁等领域的产品与技术,打造中国最具价值的纳米展场,美信检测作为材料行业的j9九游会登录入口的合作伙伴,受邀参展。

 

美信检测将于纳博会展示多项检测项目,包含新材料/新工艺分析、材料表面结构及成分分析及失效分析,其中不乏高端分析项目。

 

新材料/新工艺分析

项目分析:作为一家专注于材料和零部件检验及分析的专业第三方实验室,凭借多年的检验、分析经验,可以帮助研发单位制订新材料/新工艺的质量评价方案,帮助买家依据相关标准或规格书验证新材料的关键技术参数,出具专业检测、分析报告。

项目展示:新兴电子信息材料、高端金属结构材料、先进高分子材料、新型无机非金属材料、高性能的复合材料、前沿新材料。

案例图片:

失效分析 失效分析
pcb切片分析 芯片sem图片

 

材料表面结构及成分分析

项目分析:利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用,测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像,得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息,包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布测定等。

项目展示:俄歇电子能谱分析(aes)、x射线光电子能谱分析(xps)、飞行时间二次离子质谱分析(tof-sims)、动态二次离子质谱分析(d-sims)、聚焦离子束(fib)、透射电子显微镜(tem)、x射线衍射分析(xrd)。

案例图片:

失效分析 失效分析
led碎片金相显微镜观察 微米级缺陷样品截面制备
失效分析 失效分析
离子成像观察铜箔金相调整 pcb焊盘测试

 

失效分析

项目分析:通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的失效产品明确失效模式、分析失效机理,最终明确失效原因。

项目展示:电子元器件失效分析、金属材料失效分析、高分子材料失效分析、复合材料失效分析、pcb/pcba失效分析等。

案例图片:

失效分析 失效分析
电梯按钮pc外框断裂失效 发光二极管开路失效
失效分析 失效分析
二极管短路失效 ic分层失效

 

美信检测是一家具有cnas与cma认可资质的商业实验室,专注于为客户提供材料品质检验、鉴定、认证及失效分析等专业技术服务,美信检测即将亮相2016纳博会,在此,诚邀您莅临美信检测展位参观洽谈,展位号:118号

 

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展会福利:

1. 精美礼品,来了就送;

2. 展会现场专业技术工程师面对面交流,免费咨询技术问题;

3. 现场赠送一份美信检测“2016失效分析与测试案例精选”期刊,年度经典案例解说等着你。

 

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mtt(j9九游会登录入口-j9九游会真人游戏第一品牌)是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室,网址:j9九游会登录入口-j9九游会真人游戏第一品牌,联系电话:400-850-4050。

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