晶振内部晶片表面存在颗粒异物导致的失效 -j9九游会登录入口

2023-10-20  浏览量:71

 

抓到你了!晶振内部晶片表面存在颗粒异物导致的失效

 

背景介绍

 

晶振在试制阶段失效,经过多次高温回流后测试出现高温停振的现象,现检测分析失效晶振和未使用的ok晶振进行分析,查找失效原因。

 

测试分析

 

1 外观检查

 

为确认晶振外观是否存在不良的现象,对失效晶振进行外观检查。经分析,失效晶振正面、背面,侧面都未发现明显不良。

 

2 电性能测试

 

测试2pcs 失效晶振、1pcs ok晶振在常温及高温状态下的电性能,测试发现ng1、ng2晶振在高温状态下,主要表现为输出频率偏移,等效电阻阻抗变大的现象,如表 1所示。

 

表1 晶振电性测试结果

晶振电性测试结果

 

3 ct扫描

 

为确认失效晶振内部结构是否存在异常,对ng2晶振进行了ct扫描,经分析在ng2晶振连接处有疑似开裂及翘起的现象,如图1。

 

ng2 晶振 ct扫描形貌

图1 ng2 晶振 ct扫描形貌

 

4 切片分析

 

为确认失效晶振连接部位是否存在异常,对ng2晶振进行切片分析,观察疑似翘起位置是否存在异常。经切片确认疑似翘起位置连接良好,未发现明显异常,判定为由于metal起伏导致的ct误判,如图2所示。

 

ng2 晶振ct扫描形貌

图2 ng2 晶振ct扫描形貌

 

5 开封观察

 

为确认ng1晶振内部是否存在异常,对ng1和ok晶振进行开封,通过sem观察发现,ng1晶振晶片内部存在颗粒异物,晶振内部无异物;从异物1的sem形貌发现,异物1疑似与晶片粘接,排除开封过程中引入的,如图3所示。对ng1晶片表面的3个异物分别作了成分分析,对晶振本体的材料也做了成分分析,外来物质主要成分为c/o/si/ag/fe/ni等,如图4,表2,表3所示。

 

ng1晶振sem整体图

图3 ng1晶振sem整体图

 

ng1晶振胶体eds和壳体eds测试结果

图4 ng1晶振胶体eds和壳体eds测试结果

 

表2 ng1晶振点胶点eds测试结果

ng1晶振点胶点eds测试结果

 

表3 ng1晶振壳体eds测试结果

ng1晶振壳体eds测试结果

 

结论

 

晶振失效的原因为晶振内部晶片表面存在颗粒异物,高温激发后导致输出频率及阻抗异常。

 

*** 以上内容均为原创,如需转载,请注明出处 ***

 

简介

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