“2016全国表面分析科学与技术应用学术会议”隆重召开，美信检测受邀与全国知名专家学者共同探讨学习-j9九游会登录入口

2016年8月10-12日，“2016全国表面分析科学与技术应用学术会议”于昆明盛大召开，该会由高校分析测试中心研究会，全国微束分析标准化技术委员会表面分析分技术委员会，北京分析测试协会表面分析专业委员会主办，昆明理工大学-分析测试研究中心，国家大型科学仪器中心-北京电子能谱中心，昆明红源会展有限公司协办。近百名从事表面分析研究与应用的专家学者参加了会议，美信检测应邀参加该会议，为表面分析科学与技术应用事业助力。

会议开始由清华大学朱永法、昆明理工大学杨喜昆代表主办方和承办方分别致辞，随后由表面分析科学细分领域的专家学者做大会报告，内容丰富精彩，讲解全面，反射电子能量损失谱（reels）、x-射线光电子能谱(xps)和飞行时间二次离子质谱(tof-sims)、aes分析技术、辉光放电光谱仪分析技术等目不暇接，在技术应用方面也非常多样化，涉及氮化物发光材料器件、石墨烯纳米结构的制备与表征、在铝焊垫上铝氟化物分析和表征中的应用、有机太阳电池研究中的应用等。

美信检测技术专家表示，美信检测现推出的表面分析技术有俄歇电子能谱分析（aes）、x射线光电子能谱分析（xps）、飞行时间二次离子质谱分析（tof-sims)、动态二次离子质谱分析（d-sims）、离子研磨抛光（cp）、聚焦离子束分析（fib）、原子力显微镜分析（afm）、纳米压痕/划痕等技术，该会议内容于美信检测工程师对表面分析技术的深入研究有重大意义，开拓美信检测在表面分析领域的视野，有利于实验室更好的发展。在与专家交流过程中，也分享了表面分析技术于不同行业材料检测领域的应用，共同推动表面分析技术于工业的广泛应用。

近日，美信检测借助网络直播平台，学习传达了“2016全国表面分析科学与技术应用学术会议”内容，对“xps中化学信息及表界面分析应用”(朱永法，清华大学)，“光谱流变联用技术及界面流变学”（祝旻卿，赛默飞），“原子力显微技术及其研究进展”（程志海，国家纳米科学中心纳米标准与检测重点实验室）进行了培训学习，巩固美信检测技术工程师的技术水平，深度理解并时刻关注先进前沿的表面分析技术。

美信检测不断提升实验室整体技术水平，加大对技术力量的投资，旨在为客户提供更好的服务。借助科学的检测分析方法，专业的工程技术人员和精良的仪器设备，帮助客户解决在产品研发、生产、贸易等环节遇到的各种与材料相关的工程、科学和技术问题。

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