学术干货|真诚带你学习xrd基本理论及物相分析-j9九游会登录入口

2016-05-26  浏览量:467

来源:材料牛网

 

自从1912年劳埃等人根据理论预见,并用实验证实了x射线与晶体相遇时能发生衍射现象,证明了x射线具有电磁波的性质,成为x射线衍射学的第一个里程碑。1912年德国物理学家劳厄(m.von laue)提出一个重要的科学预见:晶体可以作为x射线的空间衍射光栅,即当一束x射线通过晶体时将发生衍射,衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。从而开启了x射线衍射学的林荫大道。

 

什么是xrd?

 

xrd 即x-ray diffraction 的缩写,x射线衍射,通过对材料进行x射线衍射,分析其衍射图谱,获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。

 

xrd的基本原理

 

xrd

 

x-射线的产生是由在x-射线管(真空度10-4pa)中有30-60kv的加速电子流,冲击金属(如纯cu或mo)靶面产生。常用的射线是mokα射线,包括kα1和kα2两种射线(强度2:1),波长为71.073pm。

 

衍射,假如对于一维晶体而言。

 

xrd

 

其中:光程差:δ = acosθa0 acosθa 

 

xrd

一束相邻光程差δ为λ/2的散射光叠加示意图

 

xrd

一束相邻光程差δ为λ/8的散射光叠加示意图

 

即:acosθa0 acosθa = hλ

 

这就是一维结构的衍射原理。据此可推导出适用于真实的晶体三维laue方程:

 

acosθa0 acosθa = hλ

 

bcosθb0 bcosθb =kλ

 

ccosθc0 ccosθc = lλ

 

laue方程是产生衍射的严格条件,满足就会产生衍射,形成衍射点(reflectin ),laue方程中,λ 的系数hkl 称做衍射指标,它们必须为整数,与晶面指标(hkl)的区别是,可以不互质。衍射点是分立、不连续的,只在某些方向出现。

 

xrd

 

整个平面点阵族对x-射线的散射

 

射到两个相邻平面(如图1 和2)的x-射线的光程差:

 

δ = mb nb

 

而 mb = nb = dsinθ

 

根据衍射条件得--bragg方程:

 

2dhklsinθ = nλ

 

对于每一套指标为hkl、间隔为d的晶格平面,其衍射角和衍射级数n直接对应, 不同n值对应的衍射点可以看成晶面距离不同的晶面的衍射,例如,hkl晶面在n=2时的衍射和2h2k2l晶面在n=1时的衍射点等同。这样bragg方程可以简化重排成下式,这样每个衍射点可以唯一地用一个hkl来标记:

 

 

xrd

 

当dmin = λ/2sinθmax时,得到最大的分辨率。

 

mokα射线,最大分辨率是36pm,当θmax等于20、22、25、30度时的分辨率分别为:104、95、84、71pm。

 

xrd物像分析

 

物相检索也就是“物相定性分析”。它的基本原理是基于以下三条原则:(1)任何一种物相都有其特征的衍射谱;(2)任何两种物相的衍射谱不可能完全相同;(3)多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。

 

随着xrd标准数据库的日益完善,xrd物相分析变得越来越简单,目前最常见的操作方式是将样品的xrd谱图与标准谱图进行对比来确定样品的物相组成。xrd标准数据库包括jcpds(即pdf卡片),icsd,ccdc等,分析xrd谱图的软件包括jade,xpert highscore等,这里推荐使用jade。

 

对于jade软件的一些基本概念和基本操作,有兴趣的同学可以进入jade软件的网站j9九游会真人游戏第一品牌主页深入了解。在此,就不做介绍了。本文将做一些入门级别的介绍。

 

打开一个图谱,不作任何处理,鼠标右键点击“s/m”按钮, 打开检索条件设置对话框, 去掉“use chemistry filter”选项的对号,同时选择多种pdf子库,检索对象选择为主相( s/m focus on major phases) 再点击“ ok” 按钮, 进入“ search/match display” 窗口。

 

xrd

 

下图所示,是al样品xrd谱图在jade软件中的search/match操作。

 

xrd

 

“search/match display”窗口分为三块,最上面是全谱显示窗口,可以观察全部 pdf 卡片的衍射线与测量谱的匹配情况,中间是放大窗口,可观察局部匹配的细节,通过右边的按钮可调整放大窗口的显示范围和放大比例,以便观察得更加清楚。窗口的最下面是检索列表,从上至下列出最可能的 100 种物相, 一般按“fom”由小到大的顺序排列,fom是匹配率的倒数。数值越小,表示匹配性越高。

 

在这个窗口中,鼠标所指的pdf卡片行显示的标准谱线是蓝色,已选定物相的标准谱线为其它颜色,会自动更换颜色,以保证当前所指物相谱线的颜色一定为蓝色。在列表右边的按钮中,上下双向箭头用来调整标准线的高度,左右双向箭头则可调整标准线的左右位置,这个功能在固溶体合金的物相分析中很有用,因为固溶体的晶胞参数与标准卡片的谱线对比总有偏移(固为固溶原子的半径与溶质原子半径不同,造成晶格畸变)。物相检定完成,关闭这个窗口返回到主窗口中。

 

限定条件主要是限定样品中存在的“元素”或化学成分,在“use chemistry filter”选项前加上对号,进入到一个元素周期表对话框。将样品中可能存在的元素全部输入, 点击“ok”, 返回到前一对话框界面,此时可选择检索。

对象为次要相或微量相( s/m focus on minor phases 或 s/m focus on trace phases)。其它下面的操作就完全相同了。

 

xrd

 

计算晶粒大小

 

如果样品为退火粉末,则无应变存在,衍射线的宽化完全由晶粒比常规样品的小而产生。这时可用谢乐方程来计算晶粒的大小。

 

xrd

 

式中size表示晶块尺寸(nm),k为常数, 一般取k=1,λ是x射线的波长(nm), fw(s)是试样宽化(rad),θ则是衍射角(rad)。这个半高处的高度有个专门名词, 称为“半高宽”,英文写法是fwhm。

 

在jade软件中直接集成了采用半峰宽来计算样品的晶粒尺寸这一功能,比较方便。要想使用该功能,首先必须在edit-->preferences-->report里面勾上,estimate crystallite size from fwhm values.如下图所示:

 

xrd

 

勾上之后就可以很方便的进行粒径分析了,如下图所示,采用edit toolbar中的积分按钮,在主峰下拉取基线,会自动弹出窗口,里面包含晶粒尺寸信息。注意,这里算出来的是平均尺寸,且使用范围为3-200 nm.

 

*** 结束 ***

 

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