免费直播课堂丨高端制样分析技术:离子研磨(cp)和聚焦离子束(fib) -j9九游会登录入口
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离子研磨(cp)和聚焦离子束(fib) ,高端制样分析技术,十大专题详解!
4月10日,针对高端制样技术:离子研磨(cp)与聚焦离子束(fib),详细讲解:机械研磨与离子研磨技术对比;离子研磨在电子制造领域的应用优势,深度剖析离子研磨(cp)与聚焦离子束(fib)技术特点与应用案例。广泛应用于:集成电路、半导体、芯片、pcb等电子产品的显微分析、内部或截面结构观察。
时间:2020年4月10日 15:00
形式:直播互动,提供回看,请务必加入交流群。
课程限时免费,限额300人!
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高端制样分析技术,从技术原理到实际应用进行全面的讲解!
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详解课表
1. 材料分析中传统制样技术的局限
2. 新一代的制样方法
3. cp离子研磨核心原理
4. cp离子研磨主要功能
5. cp离子研磨在材料分析中应用案例详解
6. cp离子研磨对于不同测试需求的样品要求详解
7. fib聚焦离子束核心原理
8. fib聚焦离子束主要功能
9. fib聚焦离子束在材料分析中应用案例详解
10. cp与fib 制样方法如何选择
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